专利名称: | 电路板测试工装 | ||
专利名称(英文): | Circuit board testing tool | ||
专利号: | CN201410692579.2 | 申请时间: | 20141126 |
公开号: | CN104535916A | 公开时间: | 20150422 |
申请人: | 重庆长野汽车配件有限公司 | ||
申请地址: | 401329 重庆市九龙坡区金凤镇凤笙路27号附6号 | ||
发明人: | 陈大平; 李航; 高静 | ||
分类号: | G01R31/28; G01R1/04 | 主分类号: | G01R31/28 |
代理机构: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 裴娜 |
摘要: | 本发明公开了一种电路板测试工装,包括L形基座和下模板,下模板上设置有定位槽,定位槽的槽底上设置有连接电路板下表面上检测点的第一探针组;还包括上模板,上模板上设置有连接电路板上表面上检测点的第二探针组,所述上模板上还设置有连杆和导杆,所述竖板上设置有驱动连杆上下移动的手柄和与导杆上下滑动配合的导向块。检测时,将电路板放置在定位槽中,定位槽能保证电路板下表面上的检测点与第一探针组的上端准确正对连接,然后通过手柄推动上模板下移,上模板上的第二探针组能与电路板上表面上的检测点准确正对连接;通过本工装能实现将电路板检测点和电路板测试仪快速准确连接,能很大的提高电路板检测速度。 | ||
摘要(英文): | The invention discloses a circuit board testing tool which comprises an L-shaped pedestal and a lower die plate. The lower die plate is provided with a positioning groove, and the bottom of the positioning groove is provided with a first probe group that is connected with detection points at the lower surface of the circuit board. An upper die plate is also included, the upper die plate is provided with a second probe group that is connected with detection points at the upper surface of the circuit board, a connecting rod and guide rods, and a vertical plate is provided with a handle which can drive the connecting rod to move up and down and guiding blocks which are in up-and-down sliding cooperation with the guide rod. During detection, the circuit board is placed in the positioning groove, the positioning groove can ensure that the detection points at the detection points at the lower surface of the circuit board are correctly connected with the upper ends of first probe group, the handle pushes the upper die plate to move downwardly, the second probe group on the upper die plate is correctly connected with the detection points at the upper surface of the circuit board, the detection points of the circuit board are rapidly and accurately connected with a circuit board detector via the tool, and the circuit board detection speed is greatly improved. |
1.一种电路板测试工装,其特征在于:包括由横板和竖板组成的L形基 座,所述横板上设置有下模板,所述下模板上设置有与形状与电路板外轮廓 相配的定位槽,所述定位槽的槽壁上设置有支撑电路板的台阶,所述定位槽 的槽底上设置有连接电路板下表面上检测点的第一探针组; 还包括上模板,所述上模板上设置有连接电路板上表面上检测点的第二 探针组,所述上模板上还设置有连杆和导杆,所述竖板上设置有驱动连杆上 下移动的手柄和与导杆上下滑动配合的导向块。
2.根据权利要求1所述的电路板测试工装,其特征在于:所述下模板上还 设置有与定位槽连通的横向取件槽。
1.一种电路板测试工装,其特征在于:包括由横板和竖板组成的L形基 座,所述横板上设置有下模板,所述下模板上设置有与形状与电路板外轮廓 相配的定位槽,所述定位槽的槽壁上设置有支撑电路板的台阶,所述定位槽 的槽底上设置有连接电路板下表面上检测点的第一探针组; 还包括上模板,所述上模板上设置有连接电路板上表面上检测点的第二 探针组,所述上模板上还设置有连杆和导杆,所述竖板上设置有驱动连杆上 下移动的手柄和与导杆上下滑动配合的导向块。
2.根据权利要求1所述的电路板测试工装,其特征在于:所述下模板上还 设置有与定位槽连通的横向取件槽。
翻译:技术领域
本发明涉及一种工装,特别涉及一种电路板测试工装。
背景技术
在汽车导航仪生产过程中,对汽车导航仪中的电路板进行测试是非常重要 的工作。
现有技术中,对于小批量生产的电路板,一般是直接用万用表测试电路板 上两测量点之间的电压电流,来判断电路板是否合格,这种测试方法存在测试 工作效率低的缺点。
而对于大批量生产的电路板,现有技术中一般采用电路板测试仪利用软件 程序自动检测。其使用方法是,将电路板上的各测试点和电路板测试仪上的信 号输入端连接,运行电脑中的测试程序,测试结果通过电脑显示器显示出来, 良品就显示OK,不良就显示NG。但是采用电路板测试仪检测电路板,需要将电 路板上各检测点同时和测试仪上的信号输入端连接,而现有技术中还没有较好 的方法能快速的将电路板测试仪与电路板上的各测试点连接。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的是提供一种电路板测试工装,以解决现有技术中不 能快速的将电路板测试仪和电路板上各测试点连接的问题。
本实用新电路板测试工装,包括由横板和竖板组成的L形基座,所述横板 上设置有下模板,所述下模板上设置有与形状与电路板外轮廓相配的定位槽, 所述定位槽的槽壁上设置有支撑电路板的台阶,所述定位槽的槽底上设置有 连接电路板下表面上检测点的第一探针组;
还包括上模板,所述上模板上设置有连接电路板上表面上检测点的第二 探针组,所述上模板上还设置有连杆和导杆,所述竖板上设置有驱动连杆上 下移动的手柄和与导杆上下滑动配合的导向块。
进一步,所述下模板上还设置有与定位槽连通的横向取件槽。
本发明的有益效果:
本发明电路板测试工装,在使用前,预先将下模板上的第一探针组的下端和 电路板测试仪连接,然后将电路板放置在定位槽中,定位槽和槽壁上的台阶可保 证电路板平行、并保证电路板下表面上的检测点与第一探针组的上端准确正对连 接,然后通过手柄推动上模板下移,在导向杆的导向作用下,上模板上的第二探 针组能与电路板上表面上的检测点准确正对连接;通过本工装能实现将电路板检 测点和电路板测试仪快速准确连接,能很大的提高电路板检测速度。
附图说明
图1为本发明电路板测试工装的立体结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步描述。
如图所示,本实施例电路板测试工装,包括由横板1和竖板2组成的L 形基座,所述横板上设置有下模板3,所述下模板上设置有与形状与电路板外 轮廓相配的定位槽4,所述定位槽的槽壁上设置有支撑电路板的台阶5,所述 定位槽的槽底上设置有连接电路板下表面上检测点的第一探针组6;
还包括上模板7,所述上模板上设置有连接电路板上表面上检测点的第二 探针组8,所述上模板上还设置有连杆9和导杆10,所述竖板上设置有驱动 连杆上下移动的手柄11和与导杆上下滑动配合的导向块12。
本实施例电路板测试工装,在使用前,预先将下模板上的第一探针组的下端 和电路板测试仪连接,然后将电路板放置在定位槽中,定位槽和槽壁上的台阶可 保证电路板平行、并保证电路板下表面上的检测点与第一探针组的上端准确正对 连接,然后通过手柄推动上模板下移,在导向杆的导向作用下,上模板上的第二 探针组能与电路板上表面上的检测点准确正对连接,即可通过电路板测试进行检 测;通过本工装能实现将电路板检测点和电路板测试仪快速准确连接,能很大的 提高电路板检测速度。
作为对本实施例的改进,所述下模板上还设置有与定位槽连通的横向取件 槽13,在测试完毕后,手指放入取件槽13中可方便的将电路板从定位槽中取 出,取件更方便,能进一步提高工作效率。
最后说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管 参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解, 可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的 宗旨和范围,其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。